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        預防電容破裂失效指南

        文件來源:雷度電子
        文件類型:pdf
        更新時間:2012-11-14
        文件大?。?17K
        MLCC 電容的巨大普及性與可選擇性技術的比較,首先是他們出色的可靠性記錄和低成本。但是在某一特定環境下由于元器件的陶瓷部分破裂會發生一些問題。當元器件焊接到電路板后,這些失效通常由機械破壞產生;當電路板誤操作或在極其苛刻的環境條件下組裝,也會導致失效。這篇文章闡述了 如何通過一個軟的終端系統,減輕施加在陶瓷上的機械力來使這類失效最小化。
        本文鏈接:http://www.joehorizon.com/cp-dl/933
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